Modeling of systems and processes Modeling of systems and processes Моделирование систем и процессов 2219-0767 45393 10.12737/2219-0767-2021-14-2-80-86 Физико-математические науки Физико-математические науки Analysis of potential ECB effects from AI CP exposure Анализ потенциально возможных эффектов в ЭКБ от воздействия ИИ КП Козюков Александр Евгеньевич Kozyukov Aleksandr Evgen'evich Чубунов Павел Александрович Chubunov Pavel Aleksandrovich Зольников Константин Владимирович Zolnikov Konstantin Vladimirovich Скворцова Татьяна Владимировна Skvortsova Tatyana Vladimirovna Журавлева Ирина Витальевна Zhuravleva I. V. АО "Научно-исследовательский институт космического приборостроения" Россия АО "Научно-исследовательский институт космического приборостроения" Russian Federation АО "Научно-исследовательский институт космического приборостроения" Россия АО "Научно-исследовательский институт космического приборостроения" Russian Federation Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Россия Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov Russian Federation Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Россия Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov Russian Federation Филиал Ростовского государственного университета путей сообщения в г. Воронеже Россия Филиал Ростовского государственного университета путей сообщения в г. Воронеже Russian Federation 14 2 80 86 26 03 2021 https://naukaru.ru/en/nauka/article/45393/view

Характер влияния радиации на твердое тело зависит от типа, кинетической энергии, массы и заряда частиц, из которых состоит это излучение, а также от массы, атомного номера и плотности материала. В статье рассмотрены вопросы, связанные с физическими моделями воздействия ионизирующих излучений космического пространства на узлы аппаратуры космических аппаратов.

The nature of the effect of radiation on a solid depends on the type, kinetic energy, mass and charge of the particles that make up this radiation, as well as on the mass, atomic number and density of the material. The article deals with the issues related to the physical models of the impact of ionizing radiation from outer space on the components of spacecraft equipment.

 Взаимодействие вещества электронно-дырочные пары ионизационные дефекты высокоэнергетический фотон МОП-транзистор Interaction of matter electron-hole pairs ionization defects high-energy photon MOSFET

Соловьев, А.В. Конструктивно-технологические методы улучшения электрических характеристик радиационно стойких микросхем в условиях серийного производства / А.В. Соловьев // Наноиндустрия. - 2020. - № S96-2. - С. 712-716. - DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.3s.712.716 Solov'ev, A.V. Konstruktivno-tehnologicheskie metody uluchsheniya elektricheskih harakteristik radiacionno stoykih mikroshem v usloviyah seriynogo proizvodstva / A.V. Solov'ev // Nanoindustriya. - 2020. - № S96-2. - S. 712-716. - DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.3s.712.716 Создание базиса для микросхем сбора и обработки данных / В.А. Скляр, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников, И.И. Струков, К.А. Чубур // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 2. - С.66-71. - DOI: 10.12737/article_5b57795062f199.54387613 Sozdanie bazisa dlya mikroshem sbora i obrabotki dannyh / V.A. Sklyar, A.V. Achkasov, K.V. Zol'nikov, I.I. Strukov, K.A. Chubur // Modelirovanie sistem i processov. - 2018. - T. 11, № 2. - S.66-71. - DOI: 10.12737/article_5b57795062f199.54387613 Анализ качества проектирования блоков ОЗУ в составе микропроцессорных систем с обеспечением минимальной сбоеустойчивости / В.К. Зольников, Ю.А. Чевычелов, В.В. Лавлинский, А.В. Ачкасов, А.В. Толкачев, О.В. Оксюта // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 4. - С. 47-55. -DOI: 10.12737/2219-0767-2020-12-4-47-55 Analiz kachestva proektirovaniya blokov OZU v sostave mikroprocessornyh sistem s obespecheniem minimal'noy sboeustoychivosti / V.K. Zol'nikov, Yu.A. Chevychelov, V.V. Lavlinskiy, A.V. Achkasov, A.V. Tolkachev, O.V. Oksyuta // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 4. - S. 47-55. -DOI: 10.12737/2219-0767-2020-12-4-47-55 Анализ проектирования блоков RISC-процессора с учетом сбоеустойчивости / В.К. Зольников, А.С. Ягодкин, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 4. - С. 56-65. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-12-4-56-65 Analiz proektirovaniya blokov RISC-processora s uchetom sboeustoychivosti / V.K. Zol'nikov, A.S. Yagodkin, V.I. Anciferova, S.A. Evdokimova, T.V. Skvorcova, A.I. Yan'kov // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 4. - S. 56-65. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-12-4-56-65 Методы контроля надежности при разработке микросхем / К.В. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова, А.Е. Гриднев // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 39-45. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-39-45 Metody kontrolya nadezhnosti pri razrabotke mikroshem / K.V. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, T.V. Skvorcova, A.E. Gridnev // Modelirovanie sistem i processov. - 2020. - T. 13, № 1. - S. 39-45. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-39-45 Определение мероприятий по программе обеспечения качества работ проектирования и серийного производства микросхем и оценки их эффективности на примере СБИС 1867ВН016 / К.В. Зольников, А.С. Ягодкин, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 46-53. -DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-46-53 Opredelenie meropriyatiy po programme obespecheniya kachestva rabot proektirovaniya i seriynogo proizvodstva mikroshem i ocenki ih effektivnosti na primere SBIS 1867VN016 / K.V. Zol'nikov, A.S. Yagodkin, S.A. Evdokimova, T.V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2020. - T. 13, № 1. - S. 46-53. -DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-46-53 Оценка воздействия ионизирующих излучений на электронные компоненты по результатам испытаний ограниченных выборок / М.М. Венедиктов, Е.С. Оболенская, В.К. Киселев, С.В. Оболенский // Журнал радиоэлектроники. - 2017. - № 1. - С. 7. Ocenka vozdeystviya ioniziruyuschih izlucheniy na elektronnye komponenty po rezul'tatam ispytaniy ogranichennyh vyborok / M.M. Venediktov, E.S. Obolenskaya, V.K. Kiselev, S.V. Obolenskiy // Zhurnal radioelektroniki. - 2017. - № 1. - S. 7. Комбаев, Т.Ш. Проектирование радиационной защиты комплекса научной аппаратуры космического аппарата дистанционного зондирования Земли / Т.Ш. Комбаев, М.Е. Артемов, И.В. Зефиров // Инженерный журнал: наука и инновации. - 2019. - № 5 (89). - С. 6. - DOI: 10.18698/2308-6033-2019-5-1878 Kombaev, T.Sh. Proektirovanie radiacionnoy zaschity kompleksa nauchnoy apparatury kosmicheskogo apparata distancionnogo zondirovaniya Zemli / T.Sh. Kombaev, M.E. Artemov, I.V. Zefirov // Inzhenernyy zhurnal: nauka i innovacii. - 2019. - № 5 (89). - S. 6. - DOI: 10.18698/2308-6033-2019-5-1878 Особенности технологического процесса изготовления микросхем космического назначения по технологии КМОП КНС / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, И.В. Журавлева, Е.А. Маклакова, А.А. Илунина // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 3. - С. 53-58. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-3-53-58 Osobennosti tehnologicheskogo processa izgotovleniya mikroshem kosmicheskogo naznacheniya po tehnologii KMOP KNS / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, I.V. Zhuravleva, E.A. Maklakova, A.A. Ilunina // Modelirovanie sistem i processov. - 2020. - T. 13, № 3. - S. 53-58. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-3-53-58 Журавлева, И.В. Основные факторы ионизирующих излучений космического пространства, действующие на микросхемы / И.В. Журавлева // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 3. - С. 11-16. -DOI: 10.12737/2219-0767-2019-12-3-11-16 Zhuravleva, I.V. Osnovnye faktory ioniziruyuschih izlucheniy kosmicheskogo prostranstva, deystvuyuschie na mikroshemy / I.V. Zhuravleva // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 3. - S. 11-16. -DOI: 10.12737/2219-0767-2019-12-3-11-16 Challenges and approaches to radiation hardness control of electronic components to in-space high-energy particles exposure / V. Anashin, P. Chubunov, A. Koziukov, A. Konyukhov, G. Protopopov // Proceedings - 2018 20th International Symposium on High-Current Electronics, ISHCE 2018. 20. - 2018. - Pp. 31-34. - DOI: 10.1109/ISHCE.2018.8521206 Challenges and approaches to radiation hardness control of electronic components to in-space high-energy particles exposure / V. Anashin, P. Chubunov, A. Koziukov, A. Konyukhov, G. Protopopov // Proceedings - 2018 20th International Symposium on High-Current Electronics, ISHCE 2018. 20. - 2018. - Pp. 31-34. - DOI: 10.1109/ISHCE.2018.8521206 Recent advances in beam monitoring during see testing on ISDE&JINR heavy ion facilities / V.S. Anashin, P.A. Chubunov, S.V. Mitrofanov, A.T. Isatov // INTERNATIONAL BEAM INSTRUMENTATION CONFERENCE (IBIC2018). - 2019. - С. 36-39. - DOI: 10.18429/JACoW-IBIC2018-mopa06 Recent advances in beam monitoring during see testing on ISDE&JINR heavy ion facilities / V.S. Anashin, P.A. Chubunov, S.V. Mitrofanov, A.T. Isatov // INTERNATIONAL BEAM INSTRUMENTATION CONFERENCE (IBIC2018). - 2019. - S. 36-39. - DOI: 10.18429/JACoW-IBIC2018-mopa06