Modeling of systems and processes Modeling of systems and processes Моделирование систем и процессов 2219-0767 41064 10.12737/2219-0767-2020-13-3-66-70 Технические науки Технические науки DESIGN FEATURES OF MICROCIRCUITS BASIC ELEMENTS FOR SPACE Особенности проектирования базовых элементовмикросхем космического назначения Зольников Владимир Константинович Zolnikov V. K. Скворцова Татьяна Владимировна Skvortsova Tatyana Vladimirovna Струков Иван Игоревич Strukov I. I. Илунина Анна Александровна Ilunina Anna Aleksandrovna ailunina@yandex.ru Маклакова Елена Альбертовна Maklakova Elena Al'bertovna elena.maklakova5@mail.ru Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov 13 3 66 70 https://naukaru.ru/en/nauka/article/41064/view

В статье описана микросхема, предназначенная для аттестации КМОП технологии производства РС БИС на КНС структурах. Рассмотрены ее общие и технические характеристики. Приведено описание и обоснование конструкции, содержащей транзисторы, соединение которых переменными слоями коммутации позволяет реализовать библиотечные элементы. Рассмотрена библиотека элементов базового матричного кристалла: ее состав и особенности разработки. Приведены формулы для расчета задержки сигнала бистабильным элементом и оценки длительности фронта реакции элемента на его выходе.

The article describes a microcircuit intended for certification of CMOS technology for the production of RS LSI on SPS structures. Its general and technical characteristics are considered. The description and substantiation of the construction, which unites variables by switching layers, allows to implement library elements. The library of elements of the base matrix crystal is considered: its composition and development features. Formulas for calculating the signal delay by the bistable method and estimating the duration of the front of the response of an element at its output are given.

 Базовый матричный кристалл элементы входа-выхода (PAD) библиотека элементов БМК технология КНС задержка элемента длительность фронта. basic matrix crystal input-output elements (PAD) BMC elements library SOS technology element delay rise time

Конструкция и технология микросхем космического назначения / В. К. Зольников, А. Ю. Кулай, И. И. Струков, К. А. Чубур, Ю. А. Чевычелов, С. В. Гречаный // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях : сборник трудов научной конференции. - Тамбов, 2018. - С. 229-232. Konstrukciya i tehnologiya mikroshem kosmicheskogo naznacheniya / V. K. Zol'nikov, A. Yu. Kulay, I. I. Strukov, K. A. Chubur, Yu. A. Chevychelov, S. V. Grechanyy // Informacionno-sensornye sistemy v teplofizicheskih issledovaniyah : sbornik trudov nauchnoy konferencii. - Tambov, 2018. - S. 229-232. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. -2014. -№ 2. -С. 5-9. Metody shemotehnicheskogo modelirovaniya KMOP SBIS s uchetom radiacii / K.V. Zol'nikov, V.A. Sklyar, V.I. Anciferova, S.A. Evdokimova // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. -2014. -№ 2. -S. 5-9. Зольников, В.К. Проектирование современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 1. - С. 27-30. Zol'nikov, V.K. Proektirovanie sovremennoy mikrokomponentnoy bazy s uchetom odinochnyh sobytiy radiacionnogo vozdeystviya / V.K. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 1. - S. 27-30. Лавлинский, В. В. Научные основы синтеза виртуальной реальности для проектируемой электронной компонентной базы специального назначения при воздействии тяжелых ядерных частиц : монография / В.В. Лавлинский, В.К. Зольников - Воронеж, 2016. - 256 с. Lavlinskiy, V. V. Nauchnye osnovy sinteza virtual'noy real'nosti dlya proektiruemoy elektronnoy komponentnoy bazy special'nogo naznacheniya pri vozdeystvii tyazhelyh yadernyh chastic : monografiya / V.V. Lavlinskiy, V.K. Zol'nikov - Voronezh, 2016. - 256 s. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В.Н. Ачкасов, В.А. Смерек, Д.М. Уткин, В.К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро-и наноэлектронных систем (МЭС). -2012. - № 1. -С. 634-637. Metody obespecheniya stoykosti mikroshem k odinochnym sobytiyam pri proektirovanii radiacionno-stoykih mikroshem / V.N. Achkasov, V.A. Smerek, D.M. Utkin, V.K. Zol'nikov // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro-i nanoelektronnyh sistem (MES). -2012. - № 1. -S. 634-637. Условия эксплуатации нового поколения микросхем специального назначения / В.К. Зольников, В.П. Крюков, А.Ю. Кулай, М.В. Конарев, И.И. Струков, М.В. Солодилов // Моделирование систем и процессов. - 2017. - Т. 10, № 1. - С. 23-26. Usloviya ekspluatacii novogo pokoleniya mikroshem special'nogo naznacheniya / V.K. Zol'nikov, V.P. Kryukov, A.Yu. Kulay, M.V. Konarev, I.I. Strukov, M.V. Solodilov // Modelirovanie sistem i processov. - 2017. - T. 10, № 1. - S. 23-26. Яньков, А. И. Методы испытаний современных СБИС / А. И. Яньков, В. К. Зольников, В. Е. Межов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 1. - С. 67-69. Yan'kov, A. I. Metody ispytaniy sovremennyh SBIS / A. I. Yan'kov, V. K. Zol'nikov, V. E. Mezhov // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 1. - S. 67-69. Скляр, В.А. Совмещенная аппаратно-программная верификация микросхем / В.А. Скляр, К.В. Зольников, И.В. Нагорный // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 2. - С. 63-65. Sklyar, V.A. Sovmeschennaya apparatno-programmnaya verifikaciya mikroshem / V.A. Sklyar, K.V. Zol'nikov, I.V. Nagornyy // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 2. - S. 63-65. Оценка адекватности моделирования воздействия тяжелых заряженных частиц на микросхемы / К.В. Зольников, А.И. Яньков, К.А. Чубур, А.С. Грошев, А.Л. Савченко // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8, № 4. - С. 10-12. Ocenka adekvatnosti modelirovaniya vozdeystviya tyazhelyh zaryazhennyh chastic na mikroshemy / K.V. Zol'nikov, A.I. Yan'kov, K.A. Chubur, A.S. Groshev, A.L. Savchenko // Modelirovanie sistem i processov. - 2015. - T. 8, № 4. - S. 10-12. Методы обеспечения сбоеустойчивости к одиночным событиям в процессе проектирования для микропроцессоров K1830BE32УМ И 1830ВЕ32У / А.И. Яньков, В.А. Смерек, В.П. Крюков, В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 1. - С. 92-95. Metody obespecheniya sboeustoychivosti k odinochnym sobytiyam v processe proektirovaniya dlya mikroprocessorov K1830BE32UM I 1830VE32U / A.I. Yan'kov, V.A. Smerek, V.P. Kryukov, V.K. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 1. - S. 92-95.