Russian Federation
Voronezh, Russian Federation
Russian Federation
V stat'e privoditsya analiz suschestvuyuschih podhodov k verifikacii proektov i sravnenie ih harakteristik. Rassmatrivayutsya metodologiya verifikacii «sistem na kristalle» (SoC), ee etapy i trebovaniya, pred'yavlyaemye k verifikacionnym proceduram. Opisany podhody k sozdaniyu testovyh posledovatel'nostey, neobhodimyh dlya proverki sovpadeniya fakticheskih vyhodnyh znacheniy s ozhidaemymi. Pokazana shema realizacii samoproveryayuscheysya testovoy posledovatel'nosti.
Mikroshema, proektirovanie, verifikaciya, testovaya posledovatel'nost', sistemy na kristalle.
1. Sklyar, V. A. Proektirovanie i ispytaniya mikroshem dlya sistem sbora i obrabotki informacii / V.A. Sklyar, A.V. Achkasov, K.V. Zol'nikov // Radiotehnika. - 2014. - № 6. - S. 94-98.
2. Sklyar, V.V. Sovmeschennaya apparatno-programmnaya verifikaciya mikroshem / V.A. Sklyar, K.V. Zol'nikov, I.V. Nagornyy // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 2. - S. 63-65.
3. Metody shemotehnicheskogo modelirovaniya KMOP SBIS s uchetom radiacii / K.V. Zol'nikov, V.A. Sklyar, V.I. Anciferova, S.A. Evdokimova // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2014. -№ 2. - S. 5-9.
4. Osnovnye metody i procedury verifikacii sf-blokov / V.A. Sklyar, V.P. Kryukov, V.N. Achkasov, Yu.A. Chevychelov // Modelirovanie sistem i processov. - 2011. - № 4. - S. 58-61.
5. Zol'nikov, V.K. Metodika proektirovaniya sovremennoy mikrokomponentnoy bazy s uchetom odinochnyh sobytiy radiacionnogo vozdeystviya / V.K. Zol'nikov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2012. - № 3. - S. 5-8.
6. Usloviya ekspluatacii novogo pokoleniya mikroshem special'nogo naznacheniya / V.K. Zol'nikov, V.P. Kryukov, A.Yu. Kulay, M.V. Konarev, I.I. Strukov, M.V. Solodilov // Modelirovanie sistem i processov. - 2017. - T. 10, № 1. - S. 23-26.
7. Zol'nikov, K.V. Sovremennoe proektirovanie elektronnoy komponentnoy bazy / K.V. Zol'nikov, V.V. Lavlinskiy // Ekonomika. Innovacii. Upravlenie kachestvom. - 2015. - № 1 (10). - S. 40-41.
8. Razvitie tehnologii i platform proektirovaniya pri topologicheskih normah menee 90 nm / V.A. Sklyar, K.V. Zol'nikov, V.V. Lavlinskiy, K.I. Tapero, A.I. Ozerov // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 4. - S. 72-76.
9. Metody obespecheniya stoykosti mikroshem k odinochnym sobytiyam pri proektirovanii radiacionno-stoykih mikroshem / V.N. Achkasov, V.A. Smerek, D.M. Utkin, V.K. Zol'nikov // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2012. - № 1. - S. 634-637.
10. Krivov, A.S. Metodicheskoe i tehnicheskoe obespechenie ispytaniy izdeliy elektronnoy promyshlennosti na stoykost' k elektrostaticheskim razryadam i odinochnym impul'sam napryazheniya / A.S. Krivov, V.A. Tuhas, A.I. Yan'kov // Peterburgskiy zhurnal elektroniki. -2017. - № 2-3 (87-88). - S. 111-116.
11. Metody obespecheniya sboeustoychivosti k odinochnym sobytiyam v processe proektirovaniya dlya mikroprocessorov K1830BE32UM i 1830VE32U / A.I. Yan'kov, V.A. Smerek, V.P. Kryukov, V.K. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 1. - S. 92-95.
