<!DOCTYPE article
PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20190208//EN"
       "JATS-journalpublishing1.dtd">
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="EDITORIAL" dtd-version="1.4" xml:lang="en">
 <front>
  <journal-meta>
   <journal-id journal-id-type="publisher-id">NDT World</journal-id>
   <journal-title-group>
    <journal-title xml:lang="en">NDT World</journal-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>В мире неразрушающего контроля</trans-title>
    </trans-title-group>
   </journal-title-group>
   <issn publication-format="print">1609-3178</issn>
  </journal-meta>
  <article-meta>
   <article-id pub-id-type="publisher-id">17083</article-id>
   <article-id pub-id-type="doi">10.12737/article_593fe98c6eba91.31945428</article-id>
   <article-categories>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru">
     <subject>Оптический контроль</subject>
    </subj-group>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en">
     <subject>Optical Testing</subject>
    </subj-group>
    <subj-group>
     <subject>Оптический контроль</subject>
    </subj-group>
   </article-categories>
   <title-group>
    <article-title xml:lang="en">Industrial Rigid Endoscopes</article-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Жёсткие технические эндоскопы</trans-title>
    </trans-title-group>
   </title-group>
   <contrib-group content-type="authors">
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Дьяконов</surname>
       <given-names>Сергей Юрьевич</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Dyakonov</surname>
       <given-names>Sergey Yu.</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <email>vniimp.optimed.1@gmail.com</email>
     <bio xml:lang="ru">
      <p>кандидат технических наук;</p>
     </bio>
     <bio xml:lang="en">
      <p>candidate of technical sciences;</p>
     </bio>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
    </contrib>
   </contrib-group>
   <aff-alternatives id="aff-1">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">ООО «Научно-технический центр «ВНИИМП-ОПТИМЕД-1»</institution>
     <city>Москва</city>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Research and Development Center “VNIIMP-Optimed-1”</institution>
     <city>Moscow</city>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <volume>20</volume>
   <issue>2</issue>
   <fpage>10</fpage>
   <lpage>14</lpage>
   <self-uri xlink:href="https://naukaru.ru/en/nauka/article/17083/view">https://naukaru.ru/en/nauka/article/17083/view</self-uri>
   <abstract xml:lang="ru">
    <p>Рассмотрено устройство жёстких технических эндоскопов. Исследованы виды оптических систем эндоскопов, показаны их преимущества и недостатки. Показаны модели эндоскопов, выпускаемых ООО «Научно-технический центр «ВНИИМП-ОПТИМЕД-1». Приведены конкретные примеры использования эндоскопов в целях диагностики.</p>
   </abstract>
   <trans-abstract xml:lang="en">
    <p>Рассмотрено устройство жёстких технических эндоскопов. Исследованы виды оптических систем эндоскопов, показаны их преимущества и недостатки. Показаны модели эндоскопов, выпускаемых ООО «Научно-технический центр «ВНИИМП-ОПТИМЕД-1». Приведены конкретные примеры использования эндоскопов в целях диагностики.</p>
   </trans-abstract>
   <kwd-group xml:lang="ru">
    <kwd>градиентный оптический элемент</kwd>
    <kwd>осветитель</kwd>
    <kwd>разрешающая способность</kwd>
    <kwd>волоконно-оптический  жгут</kwd>
   </kwd-group>
  </article-meta>
 </front>
 <body>
  <p></p>
 </body>
 <back>
  <ref-list>
   <ref id="B1">
    <label>1.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Бабаджанов Л. С., Бабаджанова М. Л. Метрологическое обеспечение измерений толщины покрытий. - М.: Изд-во стандартов, 2004.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Babadzhanov L. S., Babadzhanova M. L. Metrologicheskoe obespechenie izmereniy tolschiny pokrytiy. - M.: Izd-vo standartov, 2004.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B2">
    <label>2.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">ISO 21968:2005. Non-magnetic metallic coatings on metallic and non-metallic basis materials - Measurement of coating thickness - Phase-sensitive eddy-current method.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">ISO 21968:2005. Non-magnetic metallic coatings on metallic and non-metallic basis materials - Measurement of coating thickness - Phase-sensitive eddy-current method.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B3">
    <label>3.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Бариска А., Райнке Н., Сясько В. А. Активный синхронный термодинамический метод измерения толщины диэлектрических покрытий. - В мире НК. 2016. Т. 19. № 1. С. 14-16.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Bariska A., Raynke N., Syas'ko V. A. Aktivnyy sinhronnyy termodinamicheskiy metod izmereniya tolschiny dielektricheskih pokrytiy. - V mire NK. 2016. T. 19. № 1. S. 14-16.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B4">
    <label>4.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Потапов А. И., Сясько В. А. Неразрушающие методы и средства контроля толщины покрытий и изделий. - СПб.: Гуманистика, 2009. - 904 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Potapov A. I., Syas'ko V. A. Nerazrushayuschie metody i sredstva kontrolya tolschiny pokrytiy i izdeliy. - SPb.: Gumanistika, 2009. - 904 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B5">
    <label>5.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Р50.2.006-2001 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне измерений толщины покрытий в диапазоне 1-20000 мкм. -М.: Изд-во стандартов, 2001.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">R50.2.006-2001 GSI. Gosudarstvennaya poverochnaya shema dlya sredstv izmereniy tolschiny pokrytiy v diapazone izmereniy tolschiny pokrytiy v diapazone 1-20000 mkm. -M.: Izd-vo standartov, 2001.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
  </ref-list>
 </back>
</article>
