Russian Federation
Russian Federation
Russian Federation
Considered a comparison of experimental and theoretical results is the number of failures at the chip under the influence of heavy charged particles. Comparison of the results showed good agreement.
modeling, radiation, particles.
Для оценки адекватности моделирования проводились испытания микросхем с использованием предложенных методов защиты и без них [1-4].
Испытания проводились на микросхемах выбраны микросхемы 1882ВЕ53У, выполненные по технологии КМОП 0,35 мкм (без применения защиты ОЗУ и ПЗУ), 1882ВЕ53УМ технология – 0,35 КМОП X-Fab (резервирование ОЗУ – три блока по 512 байт, "регенерация" ОЗУ – постоянное чтение и перезапись в случае обнаружение ошибки, резервирование всех триггеров, защита кодом Хэмминга памяти данных и памяти команд) и 1830ВЕ32У (Танк-5) выполненные по технологии 0,5 мкм КМОП/КНИ НИИСИ РАН (резервирование ОЗУ – три блока по 256 байт).
Экспериментальные исследования проводились на циклотроне У-400М при воздействии ионов Kr84 с ЛПЭ(Si) – 40 МэВ (для ИС 1882ВЕ53У, 1882ВЕ53УМ) и ионов Xe131 с ЛПЭ(Si) – 60 МэВ (для ИС 1830ВЕ32У).
1. Yan´kov, A. I. Metodika funktsional´nogo kontrolya SBIS serii 1874 na stoykost´ k vozdeystviyu TZCh KP [Tekst] / A. I. Yan´kov, V. A. Smerek. Radiatsionnaya stoykost´ elektronnykh sistem «Stoykost´-2011» : nauchno-tekhnicheskiy sbornik : materialy dokladov Rossiyskoy konferentsii. - M. : MIFI, 2011. - S. 88-89.
2. Kryukov, V. P. Rezul´taty eksperimental´nykh issledovaniy mikroskhem 1882VE53U, 1882VE53UM i 1830VE32U na stoykost´ k vozdeystviyu tyazhelykh zaryazhennykh chastits. [Tekst] / V.P. Kryukov, A.I. Yan´kov, V.G. Kalinin, V.A. Smerek. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2011. - № 4. - S. 41-44.
3. Yan´kov, A. I. Podkhod k testirovaniyu slozhno-funktsional´nykh mikroskhem, primenennyy pri ispytaniyakh dvukhprotsessornoy «sistemy na kristalle» na baze yader 32-razryadnykh protsessorov TsOS [Tekst] / A. I. Yan´kov, A. V. Achkasov, K. V. Zol´nikov, M. V. Konarev. Elementnaya baza otechestvennoy elektroniki : materialy pervoy Rossiyko-belorusskoy nauchno-tekhnicheskoy konferentsii. - N. Novgorod, NNGU. - 2013. - S. 96-99.
4. Yan´kov, A. I. Rezul´taty issledovaniya sboeustoychevogo protsessora serii 1867 [Tekst] / A. I. Yan´kov, A. V. Achkasov, K. V. Zol´nikov, M. V. Konarev, N. A. Orlikovskiy. Modelirovanie sistem i protsessov. -2013. - № 4. - S. 72-74.
5. Sklyar, V. A. Razrabotka mikroskhemy dlya ispol´zovaniya v avtomobil´nom transporte pri sbore i obrabotke dannykh [Tekst] / V. A. Sklyar, K. V. Zol´nikov, A. V. Achkasov, A. A.Stoyanov. Al´ternativnye istochniki energii na avtomobil´nom transporte: problemy i perspektivy ratsional´nogo ispol´zovaniya : materialy mezhdunarodnoy konferentsii. - Voronezh, 2014. - S. 348-354.
6. Smerek, V.A. Opredelenie veroyatnosti bezotkaznoy raboty pri strukturnoy optimizatsii elementov slozhnykh funktsional´nykh blokov v SAPR [Tekst] / V. A. Smerek, K. V. Zol´nikov, A. I. Yan´kov, M. V. Konarev, N. A. Orlikovskiy, A. V. Achkasov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2013. - № 3. - S. 35-37.
7. Kononov, V. S. Dvoichno-vzveshennyy tsungovyy TsAP dlya nizkovol´tnykh ATsP na KNI-podlozhkakh [Tekst] / V. S. Kononov, K. V. Zol´nikov / Elementnaya baza otechestvennoy elektroniki : materialy pervoy Rossiyko-belorusskoy nauchno-tekhnicheskoy konferentsii. - N. Novgorod, NNGU. - 2013. - S. 22.
8. Zol´nikov, K. V. Razrabotka mikroskhemy dlya sistem sbora i obrabotki dannykh [Tekst] / K. V. Zol´nikov, V. A. Sklyar, A. V. Achkasov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2013. - № 1. - S. 40-44.
9. Smerek, V. A. Mikrokontroller 1830VE32U - 8-razryadnaya arkhitektura MSC-51 v radiatsionno-stoykom ispolnenii [Tekst] / V. A. Smerek, A. I. Yan´kov, A. V. Kryukov. Vserossiyskaya nauchno-tekhnicheskaya konferentsiya «Problemy razrabotki perspektivnykh mikro- i nanoelektronnykh sistem (MES)» : sbornik trudov. - 2010. - № 1. - S.279-282.
10. Smerek, V. A. Mikrokonverter K1874VE96T. Pervyy otechestvennyy 16-razryadnyy mikrokonverter [Tekst] / V. A. Smerek, V. N. Achkasov, I.P. Potapov. Vserossiyskaya nauchno-tekhnicheskaya konferentsiya "Problemy razrabotki perspektivnykh mikro- i nanoelektronnykh sistem (MES)» : sbornik trudov. - 2010. - № 1. - S. 390-393.
